Wichita State University;
机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:热蒸发沉积的硫化锡薄膜的X射线衍射和X射线光电子能谱表征
机译:铁薄膜中非球形晶粒的X射线衍射和扩展的X射线吸收精细结构表征
机译:通过X射线衍射将纹理表面上的多Si薄膜厚度表征在多Si / SiO2钝化接触电池中最小化寄生吸收
机译:III型氮化物半导体的高分辨率X射线衍射特性:块状晶体和薄膜。
机译:高能X射线衍射∕ X射线荧光光谱仪用于成分扩散薄膜的高通量分析
机译:基于掠入射x射线散射和衍射的ZnSe基半导体薄膜研究
机译:保护涂层和薄膜的图像板X射线衍射和X射线反射率表征