The University of Arizona.;
机译:电化学机械平坦化和化学机械平坦化对两步抛光工艺的影响
机译:分析不同抛光垫轮廓的化学机械平坦化抛光晶片的有效抛光频率和次数的方法
机译:分析不同抛光垫轮廓的化学机械平坦化抛光晶片的有效抛光频率和次数的方法
机译:从消耗效应看化学机械平面化(CMP)的优化
机译:高级电介质和金属化学机械平面化工艺的基本消耗品特性。
机译:化学机械抛光实施后化学机械抛光对钛植入物表面性质的影响FT-IR和钛植入物表面的润湿性数据
机译:化学机械平面化过程中抛光运动学和耗材的优化