声明
摘要
第1章 绪论
1.1 超导的基本概念
1.2 MgB2超导体
1.2.1 MgB2晶体结构
1.2.2 MgB2的能级结构
1.2.3 MgB2同位素效应
1.2.4 MgB2上临界磁场HC2(T)
1.2.5 MgB2临界电流密度JC
1.3 MgB2的研究背景与现状
1.3.1 MgB2的研究背景
1.3.2 MgB2的研究现状
1.4 MgB2的应用优势
1.5 本章小结
第2章 制备MgB2薄膜的实验仪器介绍
2.1 X射线衍射仪(XRD)
2.2 电学磁学性质测量系统
2.3 扫描电子显微镜
2.4 膜厚的测量
2.5 本章小结
第3章 HPCVD方法制备MgB2超导薄膜样品
3.1 HPCVD方法制备MgB2薄膜实验装置
3.2 HPCVD方法中影响MgB2薄膜质量的因素
3.2.1 Mg源
3.2.2 反应舱
3.2.3 气体的纯度
3.2.4 温度的控制
3.2.5 衬底
3.2.6 载气
3.2.7 系统总压强
3.3 HPCVD方法中影响沉积速率的因素
3.3.1 B2H6的流量与浓度
3.3.2 沉积温度
3.3.3 气体流速
3.3.4 载气的流量
3.4 本章小结
第4章 HPCVD方法制备MgB2超导薄膜的性质研究
4.1 HPCVD法制备MgB2薄膜的实验步骤
4.1.1 准备工作
4.1.2 反应与沉积
4.1.3 保存和清理
4.1.4 基本参数
4.2 在不同实验参数下制备MgB2薄膜的性质研究
4.2.1 改变反应舱的背景压强
4.2.2 改变反应温度
4.2.3 改变B2H6的流量
4.2.4 改变沉积时间
4.2.5 本节小结
4.3 在MgO衬底上制备MgB2薄膜性质的研究
4.3.1 实验过程与实验条件
4.3.2 结果分析与讨论
4.3.3 本节小结
第5章 结论和展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读硕士学位期间发表的论文
致谢