摘要
1绪论
1.1引言
1.3 β-Ga2O3材料的应用及发展现状
1.3.1深紫外透明导电薄膜
1.3.2气敏探测器
1.3.3大功率大半导体
1.3.4紫外探测器
1.4本文主要研究内容及章节安排
2氧化镓薄膜的制备及测试
2.1.1脉冲激光沉积(PLD)
2.1.2分子柬外延技术(MBE)
2.1.3化学气相沉积(CVD)
2.1.4热蒸发
2.1.5磁控溅射
2.2薄膜的光学和结构测试
2.2.1分光光度计
2.2.2椭偏仪
2.2.3 X-射线衍射(XRD)
2.2.4X-射线光电子能谱(XPS)
2.2.5拉曼散射能谱(Raman spectra)
2.2.6扫描电子显微镜(SEM)
2.3本章小结
3氧化镓薄膜的结构和光学特性
3.1实验准备
3.2.1 XPS分析
3.2.2 X-射线衍射分析(XRD)
3.2.3拉曼散射光谱分析(Raman spectra)
3.2.5扫描电子显微镜测试分析(SEM)
3.3 β-Ga2O3薄膜的光学特性
3.3.2不同氩氧比对β-Ga2O3薄膜折射率的影响
3.3.3退火因素对β-Ga2O3薄膜透射谱的影响
3.4退火温度对β-Ga2O3薄膜的电学特性影响
3.5小结
4 β-Ga2O3薄膜紫外探测器的制备及性能测试
4.1制作β-Ga2O3薄膜MSM日盲紫外探测器
4.2评价紫外探测器的主要参数
4.2.1光暗电流比Ilight/Idsrk
4.2.2响应时间
4.2.3光谱响应度
4.3.2退火温度对Ga2O3薄膜光电性能的影响
4.3.3退火时间对Ga2O3薄膜光电性能的影响
4.3.4不同电压对Ga2O3薄膜光电性能的影响
4.3.5 β-Ga2O3薄膜厚度对Ga2O3薄膜光电性能的影响
4.3.5氧化硅基底对探测器暗电流的抑制作用
4.4小结
5结论
5.1结论
5.2展望
参考文献
攻读硕士学位期间发表的论文及成果
致谢
声明
西安工业大学;