基于CCD的高速PCB线宽线距及缺陷检测方法研究

目录

声明

第一章绪论

1.1 课题研究的背景

1.2 PCB缺陷检测的背景和意义

1.3 线宽线距缺陷检测的背景和意义

1.4 国内外研究现状

1.5 本文主要内容

第二章基于CCD 的图像扫描采集系统结构及工作原理

2.1 CCD工作原理及优势

2.1.1 CCD的结构和工作原理

2.1.2 线阵 CCD用于 PCB缺陷检测和线宽线距测量的优势

2.2 CCD与工作台之间的关系

2.3 缺陷检测方法分析

2.3.1 基于误差的图像质量评估方法

2.3.2 自校正的结构相似性算法

2.3.3 缺陷检测的类型和目的

2.4 关于使用的线阵 CCD相机和 PCB扫描检测的相关分析

2.5 基于 CCD的图像扫描采集系统结构

2.5.1 扫描采集系统结构

2.5.2 扫描采集系统各部分工作原理

2.6 基于 CCD的图像扫描采集系统设计目标

2.7 本章小结

第三章基于CCD 图像快速滤波及自适应拟合的PCB 线宽线距测量算法

3.1 传统的 PCB线宽线距测量系统及其存在的问题

3.2 线宽线距测量问题的相关分析

3.2.1 线宽线距测量的基本原理及存在的问题

3.2.2 图像拼接与线宽线距检测之间的关系

3.3 算法思路及总体流程设计

3.4 算法详细设计

3.4.1 部分图像的快速导向滤波

3.4.2 自适应归一化图像增强

3.4.3 自适应二值化

3.4.4 边界筛选和自适应拟合

3.4.5 斜率对真实差值的影响

3.5 仿真实验及结果分析

3.5.1 实验环境及参数

3.5.2 对比实验

3.6 本章小结

第四章基于CCD 图像高速滚动重组及结构相似性算法的PCB缺陷检测算法

4.1 传统 PCB缺陷检测系统及其存在的问题

4.2 CCD图像高速滚动重组下结构相似性算法的基本原理及存在的问题

4.3 算法思路及总体流程设计

4.4 算法详细设计

4.4.1 滚动图像重组拼接

4.4.2 基于结构相似性算法的缺陷检测

4.4.3 自校正修正

4.5 本方法所带来的有益效果

4.6 本章小结

第五章实验与测试

5.1 实验环境及上位机设计

5.1.1 实验环境及工作系统结构

5.1.2 上位机设计

5.2 实验结果及分析

5.2.1 线宽线距测量实验及分析

5.2.2 缺陷检测实验及分析

5.2.3 速度干扰下的检测实验及分析

5.3 本章小结

第六章总结与展望

6.1 研究工作总结

6.2 课题展望

致谢

参考文献

攻读硕士学位期间取得的成果