声明
摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 MEMS技术
1.2.1 MEMS技术的基本特点
1.2.2 MEMS技术分类
1.2.3 MEMS技术的发展趋势
1.3 论文主要研究内容
第二章 MEMS加工基本工艺
2.1 光刻
2.1.1 光刻的基本原理
2.1.2 光刻工艺
2.2 薄膜技术
2.2.1 真空蒸发镀膜技术
2.2.2 离子镀
2.2.3 磁控溅射镀膜技术
2.3 等离子体刻蚀技术
2.3.1 等离子体刻蚀技术的原理
2.3.2 感应耦合等离子体(ICP)刻蚀技术
2.4 小结
第三章 环形波纹状结构的二氧化硅薄膜的制作
3.1 引言
3.2 环形波纹状结构的二氧化硅薄膜的优势
3.3 光刻掩膜版的设计
3.4 硅片正面加工
3.4.1 光刻加工
3.4.2 ICP刻蚀加工
3.4.3 磁控溅射镀膜
3.5 硅片背面加工
3.5.1 释放掩蔽层制作
3.5.2 双面曝光制作释放窗口图案
3.5.3 制作Al掩蔽层释放窗口
3.5.4 深硅刻蚀释放薄膜
3.6 磁控溅射制作反射层
3.7 本章小结
第四章 环形波纹状结构的二氧化硅薄膜的测试及应用
4.1 F-P光纤干涉传感器
4.1.1 非本征型F-P光纤干涉传感器
4.1.2 本征型F-P光纤干涉传感器(IFPI)
4.2 环形波纹状结构的二氧化硅薄膜的声压测试
4.2.1 薄膜探头的声压响应实验
4.2.2 薄膜主谐振频率下的声压响应实验
4.3 基于吸收光谱的光纤气体浓度传感器
4.3.1 光纤气体浓度传感器装置
4.3.2 气体浓度测试
4.4 本章小结
第五章 结论与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读硕士学位期间的成果
致谢