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王支刚;
苏州大学;
基于性能; 良率提升; 测试; 治具;
机译:通用固体氧化物燃料电池堆测试治具中具有高含水量氢的单电池和候选材料的评估,第一部分:测试治具和电化学性能
机译:隐式测试治具通过对象符号设置治具科学出版物
机译:预测性子集测试:针对质量,成本和良率优化IC参数性能测试
机译:测试结构对良率提高和良率提升的作用:过继良率提高(AYE)的一个例子N / sup + / P阱结泄漏会增强NMOS寄生NPN-BJT的异常泄漏电流
机译:用于集成电路设计和制造中的良率建模和良率提高的框架。
机译:用于表征MEMS开关微接触可靠性和性能的新型测试治具
机译:使用容错方案的FpGa的良率建模和良率提升
机译:mImIC CaD应用的射频性能灵敏度和工艺良率模型.mImIC程序。第3阶段
机译:治具单元,治具装置,搬运装置及测试装置
机译:固定式有线测试治具的制造方法及其治具
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