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目录
第一章 绪论
1.1阻变存储器(RRAM)的概念
1.2阻变存储器存储机制
1.3电子型阻变器件的发展
1.4掺杂对阻变存储器的影响
1.5研究内容及研究意义
第二章 薄膜制备技术以及表征技术
2.1薄膜沉积设备介绍及其原理
2.2薄膜特性表征设备
第三章 Al、Si、V离子掺杂对ATA结构电子型阻变器件的性能影响
3.1未掺杂的ATA结构电子型阻变器件的性能特性
3.2掺杂Al离子的ATA结构电子型阻变器件的性能特性
3.3掺杂Si离子的ATA结构电子型阻变器件的性能特性
3.4掺杂V离子的ATA结构电子型阻变器件的性能特性
3.5离子掺杂对ATA结构阻变存储器的Retention性能影响
3.6本章小结
第四章 Al、Si、V离子掺杂对ATA结构电子型阻变器件的机理研究
4.1 ATA结构电子型阻变器件的传输机制
4.2掺杂不同离子的ATA结构电子型阻变器件的活化能
4.3本章小结
第五章 ATA结构电子型阻变器件与离子型阻变器件的性能对比
5.1 氧化钽基离子型阻变器件的制备与优化
5.2 氧化钽基离子型阻变器件的表征
5.3 Al掺杂的电子型器件与氧化钽基离子型器件性能对比
5.4 本章小结
第六章 总结与展望
参考文献
发表论文和科研情况说明
致谢