声明
第一章 前言
1.1 研究背景
1.2 绝缘性纳米颗粒薄膜的电子输运机制
1.3颗粒薄膜中的巨霍尔效应
1.4 超导颗粒薄膜
1.5 本论文的主要工作
第二章 样品制备与表征
2.1 (ITO)x(SiO2)1-x纳米颗粒膜的制备
2.2 样品表征方法
2.3 电学性质测量
第三章 (ITO)x(SiO2)1-x薄膜的微观结构和电子输运性质
3.1 ITO体积分数以及膜厚的确定
3.2 (ITO)x(SiO2)1-x颗粒膜的微观形貌分析
3.3 低温区(ITO)x(SiO2)1-x颗粒膜的电子输运机制
3.4 高温区(ITO)x(SiO2)1-x颗粒膜的电子输运机制
3.5 (ITO)x(SiO2)1-x颗粒薄膜的霍尔输运性质
3.6 本章小结
第四章 (ITO)x(SiO2)1-x颗粒膜中的超导特性
4.1 纯Ar气氛围中所制备样品的基本信息
4.2 样品电阻率与温度的关系
4.3 (ITO)x(SiO2)1-x纳米颗粒薄膜中的超导特性
4.4 本章小结
第五章 结论
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢