声明
第1章 绪论
1.1 微结构表面形貌测试
1.2 薄膜技术的应用与厚度检测
1.3 白光光谱干涉法
1.4 论文主要内容
第2章 白光光谱干涉基本理论
2.1 双光束干涉理论
2.2 白光干涉特性
2.3 干涉可见度与相干长度
2.4 白光时域相干与频域相干
2.5 本章小结
第3章 测量系统构建
3.1 系统整体设计
3.2 系统硬件
3.3 系统软件
3.4 本章小结
第4章 绝对距离及微结构表面形貌测量
4.1 绝对距离计算方法
4.2 相位提取算法
4.3 绝对距离验证实验
4.4 微结构表面形貌测量
4.5 本章小结
第5章 薄膜厚度计算理论分析
5.1 薄膜反射特性
5.2 局部优化算法
5.3 基于非线性相位波动频率的初值估计方法
5.4 有效初值估计范围
5.5 折射率参数影响
5.6 本章小结
第6章 薄膜厚度测量实验
6.1 测量信号中非线性相位分析
6.2 薄膜测量实验
6.3 本章小结
第7章 总结与展望
参考文献
发表论文和参加科研情况说明
致谢