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张有润;
电子科技大学;
功率器件; 埋层结构; 陷阱效应; 导通电阻;
机译:4H-SiC的辐射损伤及其对功率器件特性的影响
机译:中子辐照对4H-SiC功率器件电学特性的影响
机译:高功率器件的4H-SIC(0001)的晶圆刻度为4H-SIC(0001):不同气相化学和生长速率限制的影响
机译:高压4H-SiC功率器件的阻塞特性的新型表征方法
机译:具有新结构的纳米磁性器件中的自旋转移。
机译:随机纳米氮化钛晶粒引起的动态功率延迟的特性波动以及全能门纳米线CMOS器件和电路的纵横比效应
机译:4H-SiC晶体缺陷对显微组织和器件特性的影响研究
机译:4H-sIC垂直D-mosfet的脉冲功率开关及器件表征
机译:可以改善电流特性的新结构的大功率半导体器件及其制造方法
机译:4h-SiC半导体器件和半导体器件
机译:在基板中具有半导体元件的半导体器件-在半导体元件之间的区域中具有金属布线层,并且与布线层绝缘的评估器件用于研究电特性
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