声明
第一章 绪论
1.1 研究背景及意义
1.2 国内外研究现状和发展态势
1.3 论文的主要内容
1.4 论文的结构安排
第二章 ESD防护理论基础
2.1 ESD防护基本概念
2.2 ESD物理模型和测试模型
2.2.1 人体模型HBM
2.2.2 机器模型MM
2.2.3 组件充电模型CDM
2.2.4 TLP测试模型
2.3 ESD设计窗口
2.4 ESD所致失效机理和失效判断
2.5 本章小结
第三章 SiGe工艺下常规ESD防护器件
3.1 SiGe工艺介绍
3.2二极管
3.2.1 SiGe工艺下的普通二极管结构及性能
3.2.2 SiGe工艺下的背靠背二极管结构及性能
3.2.3 HBT发射结二极管
3.3 HBT
3.3.1 常温下HBT的性能
3.3.2 高温下HBT的性能
3.3 MOSFET
3.4 SCR
3.4.1 DTSCR
3.4.2 SiGe工艺下的DTSCR器件
3.4.3 DTSCR的温度稳定性问题
3.5 本章小结
第四章 SiGe工艺下新型ESD防护器件
4.1 利用HBT辅助触发SCR
4.1.1 HBT辅助触发的实现结构
4.1.2 两种触发结构的仿真分析
4.1.3 触发结构的测试结果和特性比较
4.2 融合HBT结构的SCR
4.2.1 融合HBT结构的单向SCR
4.2.2 融合HBT结构的双向SCR
4.3 本章小结
第五章 总结与展望
致谢
参考文献
攻读硕士学位期间取得的成果