声明
摘要
引言
1 绪论
1.1电子封装和半导体芯片封装概述
1.1.1电子封装
1.1.2半导体芯片封装
1.2叠层封装概述
1.2.1多芯片封装
1.2.2叠层封装的分类
1.3叠层TSOP封装
1.3.1 TSOP封装简介
1.3.2 TSOP封装金属引线框架
1.3.3 TSOP封装的叠层方式
1.3.4叠层TSOP封装工艺制程介绍
2 TSOP2+1叠层封装的开发
2.1铜合金引线框架TSOP封装中的可靠性
2.1.1铜合金引线框架TSOP封装中的失效现象
2.1.2铜合金引线框架与晶片粘接材料分层机理研究
2.2改善可靠性的实验研究
2.3棕氧化铜合金引线框架的开发
2.3.1棕氧化处理概述
2.3.2棕氧化铜合金引线框架的特性表征
2.3.3棕氧化铜合金引线框架的封装工艺评估
2.3.4棕氧化处理的铜引线框架的封装的可靠性测试
2.3.5棕氧化铜合金引线框架的封装开发中出现过的主要问题
3 使用Chip-on-Lead引线框架的叠层TSOP封装的开发
3.1 Chip-on-Lead 引线框架的叠层TSOP封装介绍
3.1.1晶片错位叠层式封装
3.1.2 Chip-on-Lead引线框架
3.2 Chip-on-Lead引线框架的应用
3.2.1 Chip-on-Lead引线框架管脚固定胶带的粘贴方式的选择
3.2.2 Chip-on-Lead引线框胶带粘贴方式的选择
3.3干膜晶片粘接工艺开发
3.3.1干膜晶片粘接概述
3.3.2干膜晶片粘接材料
3.3.3干膜晶片粘接材料精选
3.4 Chip-on-Lead引线框架的四层晶片错位叠层TSOP
3.4.1 Chip-on-Lead TSOP封装出现过的主要问题
4 使用键合线嵌入式干膜晶片粘接材料垂直叠层TSOP封装的开发
4.1晶片的垂直叠层
4.2四层晶片垂直叠层TSOP封装的开发
4.2.1四层晶片垂直叠层TSOP封装的设计
4.2.2晶片粘贴工艺
4.2.3引线键合工艺
4.3四层晶片垂直叠层TSOP
5 研发工作总结
5.1主要成果
5.2主要创新点
5.3主要遗留问题
5.4进一步研发的主要方向
全文参考文献一览
致谢