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独创性声明及关于论文使用授权的说明
第一章绪论
第二章时序电路测试生成的主要技术
第三章基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成
第四章基于粒子群算法的时序电路测试生成
第五章基于模拟和确定性算法的测试生成
第六章MCM 互连测试的探针路径优化研究
第七章结束语
参考文献
致谢
攻读博士学位其间的研究成果
许川佩;
西安电子科技大学;
时序电路; 测试生成; 蚂蚁算法; 遗传算法; 粒子群算法; SAT算法;
机译:基于模糊延迟模型的故障模拟器,用于异步时序电路中的串扰延迟故障测试生成
机译:改进非扫描时序电路随机测试生成可能性的研究
机译:利用约束组合固定测试生成加速非循环时序电路的过渡测试生成
机译:时序电路的自动测试生成技术。
机译:使用Microsoft Pex在开源C#项目上的White-Box软件测试生成:数据集
机译:关于功能测试生成在同步时序电路诊断测试生成中的使用
机译:同步时序电路的延迟测试生成。
机译:用于具有嵌入式随机存取存储器(RAM)的时序电路的测试生成和故障仿真的方法和装置
机译:测试生成系统和测试生成方法
机译:应用测试生成程序,应用测试生成方法及应用测试设备
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