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刘士钢;
西安电子科技大学;
Yield; DFM; Local defect; Layout optimization; Critical area; Layout sensitivity;
机译:基于成品率模型的面积缩放对集成电路可靠性的影响研究
机译:利用成品率预测集成电路的长期可靠性:Boltzmann-Arrhenius-Zhurkov模型的应用
机译:扩展集成电路成品率模型以评估早期寿命可靠性
机译:使用统计紧凑模型预测光子集成电路的成品率
机译:集成电路的成品率可靠性建模:理论和实验验证。
机译:Hieronymus Fabricius Ab Aquapendente的Bursa:从原版图标到最近的研究
机译:用于数字集成电路的参数成品率预测的统计时序
机译:记录参数灵敏度研究 - 概述系统分析方法并对乘客气垫(paC)计算机模型进行灵敏度研究
机译:半导体集成电路的版图设计方法,版图设计装置以及版图设计程序
机译:计算机集成电路设计版图支持的方法及计算机集成电路设计版图的装置
机译:掩膜版图设计方法,以及用于优化集成电路集成电路掩膜版图的程序和方法
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