声明
摘要
第一章 绪论
1.1 集成电路成品率研究的意义
1.2 集成电路制造成品率的研究
1.3 版图灵敏度的研究意义
1.4 版图灵敏度模型的研究现状
1.5 本论文的内容与安排
第二章 灵敏度模型研究的前期准备
2.1 缺陷分析
2.1.1 真实缺陷的测试结构
2.1.2 缺陷的粒径分布和空间分布
2.1.3 版图和缺陷的矩阵表示
2.2 数学形态学算法
2.2.1 数学形态学基本运算
2.2.2 数学形态学算法的应用
2.3 关键面积
2.3.1 冗余物缺陷和短路关键面积
2.3.2 丢失物缺陷和开路关键面积
2.4 小结
第三章 反映到单一线网的短路灵敏度模型
3.1 现有的短路灵敏度模型
3.1.1 基于版图信息的灵敏度模型
3.2.2 基于单位芯片上关键面积大小的短路灵敏度模型
3.2 反映到单一线网的短路线网灵敏度模型
3.2.1 短路线网灵敏度模型(NSS)的提出
3.2.2 模型的计算机辅助算法
3.3 模型的应用
3.3.1 基于该模型的版图优化方法
3.3.2 考虑粒径分布的模型应用
3.3.2 优化方法的性能分析
3.4 小结
第四章 考虑线网周围空白空间的开路线网灵敏度模型
4.1 现有的开路灵敏度模型
4.1.1 基于单位芯片上关键面积大小的开路灵敏度模型
4.1.2 基于单位线网的开路灵敏度模型
4.2 考虑线网周围空白空间的开路线网灵敏度模型
4.2.1 模型提出的依据
4.2.2 模型的提出
4.2.3 模型的计算机辅助算法
4.3 模型的应用
4.3.1 模型初步验证
4.3.2 对复杂版图的验证
4.3.3 模型的性能分析及适用范围
4.4 小结
第五章 结束语
致谢
参考文献
研究成果