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目录
第一章 绪论
1.1研究背景和意义
1.2国内外研究现状和趋势
1.3论文研究思路和内容安排
第二章 电子系统HPM效应理论基础
2.1 HPM技术概述
2.2电子系统HPM效应及分类
2.3常见微电子元器件HPM效应机理
2.4本章小结
第三章 CMOS反相器的HPM扰乱和损伤效应及机理
3.1 CMOS反相器基本理论
3.2 HPM效应仿真模型构建
3.3仿真结果与分析
3.4本章小结
第四章 CMOS反相器HPM扰乱效应的影响因素研究
4.1温度对CMOS反相器HPM扰乱效应的影响
4.2 CMOS反相器的HPM扰乱脉宽效应
4.3 HPM频率对CMOS反相器扰乱效应的影响
4.4器件结构参数LB对HPM扰乱效应的影响
4.5本章小结
第五章GaAs HEMT的HPM损伤和退化效应及机理
5.1GaAs HEMT基本结构与特性
5.2GaAs HEMT仿真模型构建
5.3GaAs HEMT基本特性仿真
5.4GaAs HEMT的HPM效应仿真分析
5.5本章小结
第六章GaAs HEMT低噪放HPM效应实验研究
6.1实验方案
6.2实验结果与讨论
6.3样品失效分析
6.4本章小结
第七章 总结与展望
7.1本文总结
7.2工作展望
参考文献
致谢
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