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毫秒激光辐照硅光电探测器的损伤研究

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摘要

光电探测器在医疗、工业等许多领域有着广泛的应用。当光电探测器在接收光信号时,容易受到强激光信号的干扰和破坏。探测器被激光损伤后,表现为噪声增加,性能下降。本文从理论和实验两个方面对毫秒激光辐照PIN光电探测器的损伤机理进行了研究。论文先介绍了光电探测器的工作原理,然后概述了激光辐照探测器的损伤机理、激光辐照探测器损伤阈值的常用判定方法及影响损伤阈值的因素。
  通过实验测量了毫秒激光辐照探测器的损伤阈值。实验结果显示,ms激光辐照光电探测器的损伤阈值为25.63J/cm2。
  通过软件模拟激光辐照下靶材表面的温度变化曲线,分析靶材表面的温度分布。从模拟图像上可以看出,在激光辐照靶材平面上,光斑中心处的温度最高,随着半径的增加,激光辐照的靶材表面的温度逐渐下降,不是均匀分布的。随着辐照时间的增加,表面温度逐渐增加。
  这些研究工作对深入分析激光对光电探测器损伤机理,提高探测器抗激光损伤能力有一定借鉴的意义。

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