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周鸣岐;
长春理工大学;
光电探测器; 激光辐照; 损伤阈值; 判定方法; 软件模拟;
机译:毫秒激光辐照下硅的表面损伤形态研究
机译:毫秒和纳秒激光辐照下激光诱导的硅损伤阈值
机译:功能损失下毫秒脉冲激光辐照电荷耦合器件探测器的机理研究
机译:毫秒激光辐照硅光电二极管的光电性能降低
机译:硅金属半导体金属光电探测器:离子注入高速近红外光电二极管和位置敏感型光电探测器。
机译:毫秒脉冲激光辐照从污泥中生成硅纳米纤维团簇
机译:Nd:YAG激光辐照对多孔硅光电探测器性能的影响
机译:硅光电探测器和磁性器件的辐射损伤研究
机译:使用离子注入和飞秒激光辐照生产的高灵敏度光电探测器,成像阵列和高效光电器件
机译:伽马射线剂量瞬时检测装置,例如用于原子研究应用程序,具有与控制和读取设备连接的光电探测器的信号输出,以读出各个光电探测器的信号和参考信号
机译:光电探测器,包括光电探测器的光电探测器阵列,包括光电探测器阵列的物体探测器和物体探测程序
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