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目录
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 铜纳米颗粒的研究概况
1.3 断键理论概述
1.4 X射线光电子能谱(XPS)与俄歇电子能谱(AES)的研究现状
1.5 能级偏移的研究现状
1.6 研究方法和研究难点
1.7 研究意义和内容安排
第二章 理论基础
2.1 引言
2.2 能带理论
2.3 断键理论(BOLS)
2.4 XPS与AES
2.5 本章小结
第三章 铜纳米薄膜的能级偏移的解谱分析
3.1 引言
3.2 结合断键理论与XPS解谱
3.3铜纳米薄膜2p3/2各成份谱的能级偏移
3.4 本章小结
第四章 铜纳米颗粒能级偏移的尺寸效应
4.1 引言
4.2 铜纳米颗粒在基底上的生长
4.3 结合BOLS和XPS分析Cu 2p3/2能级偏移的尺寸效应
4.4 利用AES分析能级偏移的尺寸效应
4.5 本章小结
第五章 总结与展望
5.1 全文总结
5.2 工作展望
参考文献
致谢
硕士期间已公开发表的论文