声明
第1章 绪 论
1.1 多晶铁电薄膜
1.2 铁电存储器概述
1.3 铁电材料的研究方法
1.4 本论文的选题依据和主要内容
第2章 晶粒取向和晶界厚度对多晶铁电薄膜铁电性能的影响
2.1 多晶铁电薄膜的相场模型
2.2 晶粒取向对多晶铁电薄膜铁电性能的影响
2.3 晶界厚度对多晶铁电薄膜铁电性能的影响
2.4 本章小结
第3章 晶界处电荷聚集对多晶铁电薄膜铁电性能的影响
3.1 晶界处电荷聚集的引入
3.2 电荷聚集对多晶铁电薄膜性能影响的模拟方法
3.3 电荷聚集对多晶铁电薄膜铁电性能的影响
3.4 本章小结
第4章 晶粒取向和晶界对FeFET电学性能的影响
4.1 MFIS结构FeFET的模型建立
4.2 晶粒取向对FeFET电学性能的影响
4.3 晶界厚度对FeFET电学性能的影响
4.4 晶界处电荷聚集对FeFET电学性能的影响
4.5 本章小结
第五章 总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
致谢
个人简历
攻读硕士学位期间所取得的成果