摘要
第一章 绪论
1.1 三代半导体简介
1.2 半导体低维结构
1.3 研究材料介绍
1.3.1 纤锌矿结构GaN和ZnO
1.3.2 层状结构SnS2和SnSe2
1.4 本文研究内容简介
第二章 理论基础
2.1 有效质量理论
2.2 变分法
2.3 密度泛函理论
2.3.1 绝热近似和哈特利-福克近似
2.3.2 Hohenberg-Kohn定理
2.3.3 Kohn-Sham方程
2.3.4 交换关联泛函的简化
2.3.5 DFT+U方法
2.4 程序包VASP的介绍
第三章 纤锌矿InGaN staggered量子阱中的激子态
3.1 研究背景
3.2 理论模型和计算方法
3.2.1 理论模型
3.2.2 staggered量子阱中激子态的计算
3.3 数值结果和讨论
3.4 结论
第四章 纤锌矿ZnO/GaN超晶格的电子结构研究
4.1 研究背景
4.2 理论模型和计算方法
4.3 数值结果和讨论
4.4 结论
第五章 堆积类型对双层SnX2薄膜电子结构的影响
5.1 研究背景
5.2 理论模型和计算方法
5.3 数值结果和讨论
5.4 结论
第六章 结论
参考文献
致谢
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