声明
摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 本论文的主要内容
1.3 本论文的基本框架
参考文献
第二章 样品制备及TEM原位辐照实验方法
2.1 引言
2.2 Au修饰SiOx纳米线样品的制备和表征
2.2.1 SiOx纳米线制备和表征
2.3.2 Au纳米粒子修饰SiOx纳米线和表征
2.3 TEM原位辐照实验方法
2.3.1 Tecna i F30场发射透射电子显微镜
2.3.2 TEM原位辐照实验方法
参考文献
第三章 电子束辐照诱导Au修饰SiOx纳米线结构不稳定性
3.1 引言
3.2 电子束辐照下Au修饰SiOx纳米线的结构不稳定性
3.2.1 全域电子束辐照下Au修饰SiOx纳米线结构不稳定性
3.2.2 局域(中央)聚焦电子束辐照下Au修饰SiOx纳米线结构不稳定性
3.2.3 局域(边缘)聚焦电子束辐照下Au修饰SiOx纳米线结构不稳定性
3.2.4 实验小结
3.3 原位电子束辐照下SiOx纳米线上Au纳米颗粒的变化
3.3.1 低分辨电子束辐照下SiOx纳米线上Au纳米颗粒的变化
3.3.2 高分辨电子束辐照下SiOx纳米线上Au纳米颗粒的变化
3.3.3 实验小结
3.4 本章总结
参考文献
第四章 电子束辐照诱导纳米线结构不稳定性机理
4.1 引言
4.2 表面纳米曲率效应
4.3 电子束非热激活效应
4.4 Au纳米颗粒的钝化作用
4.5 电子束辐照诱导纳米线不稳定性机理解释
4.6 小结
参考文献
第五章 结论和展望
致谢
附录:硕士期间的研究成果