VPRM Lab, INDACO Dept., Politecnico di Milano, ITALY;
rn3D Optical Metrology Group, B. Kessler Foundation (FBK) Trento, ITALY;
rnVPRM Lab, INDACO Dept., Politecnico di Milano, ITALY;
rnTCHLAB - Dept. of Electronics and Telecommunications, University of Florence, ITALY;
active sensor; marble; 3D artifacts; accuracy;
机译:使用ADF STEM对稀GaNA进行定量化学评估:避免表面应变引起的伪影
机译:光纤中层FTIR反射光谱法无损识别大理石制品上的表面材料
机译:自动适应性迭代金属伪影减少:当在金属存在下重建CT图像时,条纹伪影的定量评估
机译:大理石表面的范围传感器:伪影的定量评估
机译:定量评估食品和接触表面之间细菌病原体转移的多种方法。
机译:沿锥形全息传感器工作范围的表面位置对AISI 316线电火花加工表面尺寸验证的影响
机译:沿锥形全息传感器工作范围的表面位置对AISI 316线EDM加工表面尺寸验证的影响
机译:用于评估基线范围/范围传感器概念的硬件测试程序