EE Dept, Nat. Tsing-Hua Univ., Hsinchu;
boundary scan testing; fault diagnosis; logic circuits; compaction ratio; compound defect diagnosis; core logic defect; multicasting-scan architecture;
机译:拆分:输出掩膜方案,用于具有测试压缩的扫描体系结构中有效的复合缺陷诊断
机译:中药的类药物分析:2.表征中药类药物,非类药物和天然化合物的支架结构
机译:Nkx2-3缺陷小鼠脾脏中的结构缺陷是固有的,并且与B细胞成熟和T细胞依赖性免疫反应中的缺陷有关。
机译:使用多播扫描架构进行复合缺陷诊断
机译:射频集成电路的架构和基于缺陷的测试和诊断技术。
机译:中药的类药物分析:2.表征中药类药物非类药物和天然化合物的支架结构
机译:容错VLSI / WSI并行体系结构中的故障诊断和良率提高。