Graduate School of Materials Science Nara Institute of Science and Technology 8916-5 Takayama Ikoma Nara 630-0192 Japan;
EBIC; dislocation; minority carrier diffusion length;
机译:4H-SiC同质外延层中位错阵列的电子束诱导电流和阴极发光研究
机译:电子束诱导的4H-SiC同轴薄膜中位错电活动的电流研究
机译:4h-sic肖特基二极管中的堆垛层错和部分位错的电子束诱导电流研究
机译:平面电子束感应电流法测量SiC中的三维无损位错分析
机译:三维涡流问题的边界积分方程方法。
机译:在实地研究与化学参考方法中使用中红外人乳分析仪测量的人乳中常量营养素含量的比较
机译:SRTIO3中位错的电子束诱导的电流和阴极发光研究
机译:用电子束感应电流法测量6H siC中晶体缺陷对少数载流子扩散长度的影响