adders; carry logic; failure analysis; integrated circuit reliability; logic design; matrix decomposition; nanoelectronics; quantum dots; circuit technology; design for reliability; expected failure rate; logic design robustness; macrolevel components; multibit rippl;
机译:基于NDR MOS结构的高效多值有符号数字加法器及其在N位电流模式恒定时间加法器中的应用
机译:基于忆阻器的N位冗余二进制加法器
机译:n位加法器的共享二元决策图的大小的上限
机译:n位纳米技术加法器的可靠性
机译:统计学在纳米技术中的应用:评估纳米传感器的可靠性。
机译:前列腺癌患者样本中游离血浆DNA的纳米技术缺乏可靠性
机译:n位分类加法器的性能估计
机译:可逆的N位到N位整数Haar-Like变换