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有機金属気相成長法を用いた酸化ガリウム結晶成長の熱力学解析

机译:金属有机气相生长法生长氧化镓晶体的热力学分析

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摘要

酸化ガリウム(Ga_2O_3)は約5 eVの広いバンドギャップを有する酸化物半導体であり、次世代パワーデバイス材料として大きな注目を集めている。既に我々は、分子線エピタキシー(MBE)法によるGa_2O_3成長の熱力学解析が、実際の成長挙動を上手く説明できることを報告した1)。一方、デバイス構造の量産の見地からは、有機金属気相成長(MOVPE)法によるGa_2O_3成長技術の確立が必須となるが、高純度層の高温成長を可能とする成長条件や原料分子種については明らかとなっていない。そこで本研究では、MOVPE法を用いたGa_2O_3成長の熱力学解析を実施し、成長条件の探索を行った。
机译:氧化镓(Ga_2O_3)是具有约5eV的宽带隙的氧化物半导体,并且作为下一代功率器件材料引起了广泛的关注。我们已经报道了通过分子束外延(MBE)方法对Ga_2O_3的生长进行热力学分析可以很好地解释实际的生长行为(1)。另一方面,从器件结构的批量生产的观点来看,通过金属有机气相生长(MOVPE)方法建立Ga_2O_3生长技术是必不可少的。因此,在这项研究中,我们使用MOVPE方法对Ga_2O_3的生长进行了热力学分析,并寻找了生长条件。

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