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画像分析技術のイメージングSIMS分析への応用

机译:图像分析技术在成像SIMS分析中的应用

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摘要

二次イオン質量分析(SIMS)では, 高精細な分子量に関する情報が取得できる一方, 生体材料のように, 組成が複雑, さらにそれらの構成分子が多数のフラグメントを生じる場合, 得られた質量分布から元の材料を同定することは極めて困難である. 本研究では, 質量に加え空間分布の情報を含むイメージングSIMSスペクトルデータに対し, 画像分析技術を援用することで, スペクトル分析の高度化を検討する.
机译:二次离子质谱(SIMS)可以获取高清晰的分子量信息,但是当组成复杂如生物材料并且其组成分子产生大量碎片时,就无法使用所获得的质量分布,因此很难鉴定在这项研究中,我们将通过使用图像分析技术对SIMS光谱数据进行成像来研究光谱分析的复杂性,SIMS光谱数据除了质量外还包括空间分布信息。

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