Department of Electrical Computer Engineering, University of Alberta, Edmonton, Alberta, Canada, T6G 2V4;
glancing angle deposition; mueller matrix ellipsometry; photonic crystal materials;
机译:介电柱状薄膜的可变角度Mueller矩阵和椭圆偏振光谱表征
机译:多层有效介质近似方法,通过原位Mueller矩阵椭偏法测量氧化铝钝化的高多孔硅纳米结构薄膜的环境效应
机译:手性纳米晶纤维素膜的穆勒基体光谱椭圆形研究
机译:多层多孔柱状薄膜的Mueller矩阵椭圆仪及其在方形螺旋光子晶体中的应用
机译:使用MUELLER矩阵椭偏仪对粗糙基体进行薄膜测量
机译:基于六角形纳米柱的多孔氧化铝辅助铌纳米结构薄膜设计2-D光子晶体的光学性质
机译:通过原位穆勒基质椭圆形测量测量的氧化铝钝化高度多孔硅纳米结构薄膜环境效应的多层有效介质近似方法