...
机译:介电柱状薄膜的可变角度Mueller矩阵和椭圆偏振光谱表征
2nd Floor ECERF Department of Electrical and Computer Engineering University of Alberta Edmonton Alta. Canada T6G 2V4;
columnar thin films; mueller matrix ellipsometry; glancing angle deposition;
机译:可变入射角椭圆偏振光谱法对Ge5Te20Se75薄膜退火效应的光学表征
机译:ZnSe1-xTex多晶薄膜的光学表征,采用可变角度椭圆偏振光谱法和分光光度计技术
机译:穆勒矩阵椭圆光谱法分析雕刻薄膜的光学性质和结构
机译:通过透明角沉积产生的介电柱状薄膜可变角度光谱椭圆形的表征
机译:使用光谱椭圆偏振法通过掠角沉积产生的薄膜的光学表征
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:可变角光谱法和穆勒矩阵椭圆偏振法研究镓纳米粒子的紫外 - 可见等离子体特性