Raytheon Electronic Systems 2000 E. El Segundo Blvd. El Segundo, California;
机译:系统设计对随机频率振动下BGA包装焊缝疲劳寿命的影响
机译:随机振动载荷下BGA封装的数值模拟和疲劳寿命估算
机译:随机振动载荷下无铅BGA的高周疲劳寿命预测
机译:使用机械疲劳测试仪评估#mu#BGA封装中束线引线的疲劳强度
机译:快速评估振动载荷下的BGA疲劳寿命。
机译:考虑载荷顺序影响的BGA热疲劳寿命预测模型
机译:关于乏燃料振动完整性研究弯曲疲劳试验系统开发的进展报告(细胞外疲劳试验开发 - 任务2.4)