Billionth Uncertainty Precision Engineering Group, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Science Town, Daejeon, 305-701, South Korea;
white-light interferometry; thin-film measurement; flat panel displays; high speed inspection; dispersive interferometry; spectrally resolved interference;
机译:光谱解析白光干涉仪,用于薄膜层结构的3D检查
机译:电容耦合的平板显示器像素和薄膜晶体管的非接触式功能检查
机译:色散白光光谱干涉法,包括薄膜对距离测量的影响
机译:用于平板显示器薄膜层的3-D检查的色散白光干涉仪
机译:用于有源矩阵平板显示器的铟镓锌氧化物薄膜晶体管。
机译:使用平板显示器的症状性调节性和双眼功能障碍
机译:薄膜厚度曲线及其分散白光干涉测量的折射率测量