Dept. of Electrical and Computer Engineering, 306 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801 Micro and Nanotechnology Laboratory, 208 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801;
Dept. of Electrical and Computer Engineering, 306 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801 Micro and Nanotechnology Laboratory, 208 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801;
Dept. of Electrical and Computer Engineering, 306 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801 Micro and Nanotechnology Laboratory, 208 N Wright St, Urbana, IL, USA 61801;
机译:量子限制斯塔克效应对不同铟含量的InGaN量子阱中沟槽缺陷内光学性能的影响
机译:具有紫光发射的超薄高铟含量InGaN量子阱中的强载流子定位和量子限制的Stark效应减弱
机译:具有紫光发射的超薄高铟含量InGaN量子阱中的强载流子定位和量子限制的Stark效应减弱
机译:抑制铟聚类和量子狭窄的InGaN LED在硅的缺点效应(111)
机译:对孤立的硅和锗团簇以及sil(111)-7x7表面上的硅团的理论研究。
机译:具有不同铟含量和不同阱宽度的InGaN / GaN多量子阱基LED的电致发光特性
机译:具有紫光发射的超薄高铟含量InGaN量子阱中的强载流子定位和量子限制的Stark效应减弱