School of Engineering and Applied Science Harvard University Cambridge MA 02134;
机译:用氦离子显微镜对超薄层进行成像:利用通道对比机制
机译:氦离子显微镜中的通道:晶体取向图
机译:等通道角挤压超细晶粒铜循环变形过程中再结晶的扫描电子显微镜-电子通道对比研究
机译:BATIO_3介电材料通过氦离子显微镜的电压对比度
机译:脉冲激光辐照诱发的钼,镍和铋单晶表面缺陷结构的研究:LEED和单正氦离子通道(热应力,滑动,位移)表征。
机译:用氦离子显微镜对超薄层进行成像:利用通道对比机制
机译:使用氦离子显微镜成像超薄层:利用通道对比机制
机译:通道对比度显微镜:应用于半导体结构