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【24h】

Low Temperature Rectifying Junctions for Crossbar Non-Volatile Memory Devices

机译:纵横制非易失性存储设备的低温整流结

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摘要

ZnO-based Schottky junctions fabricated at low temperature are proposed as selectors for crossbar non-volatile memory devices. Rectifying ratio over 107 and forward current density as high as 104 A/cm2 are reported. Results of the integration with NiO based switching memory elements are also shown.
机译:提出了在低温下制造的基于ZnO的肖特基结,作为交叉开关非易失性存储器件的选择器。据报道,整流比超过10 7 ,正向电流密度高达10 4 A / cm 2 。还显示了与基于NiO的开关存储元件集成的结果。

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