退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
机译:有效实施集成电路测试环境中的统计过程控制
Wilk S.; Institute of Electric and Electronic Engineer;
机译:用于集成电路IDDQ测试的电流传感器和兼容测试处理器
机译:在印刷电路板(PCB)生产的统计过程控制(SPC)中使用自动光学测试(AOT)
机译:邻接临界度:一种简单但有效的度量标准,用于数字集成电路的统计时序良率优化
机译:测试支持处理器,用于增强高性能集成电路的可测试性。
机译:测试程序实施的集成模型:基于学校的食品健康和选择方式的儿童肥胖预防干预过程评估
机译:具有过程不敏感性的1 mHz紧凑型数字控制感知器集成电路实现
机译:集成电路的统计测试程序,包括对第一批集成电路的完整测试,然后将关键测试的数量减少到第二批电路
机译:在统计过程控制中使用反向布置进行趋势测试以制造半导体集成电路
抱歉,该期刊暂不可订阅,敬请期待!
目前支持订阅全部北京大学中文核心(2020)期刊目录。