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Evaluation of Adhesion Materials for Gold Line-and-Space Surface Plasmon Antenna on SOI-MOS Photodiode

机译:SOI-MOS光电二极管金线空间表面等离子体天线粘附材料的评价

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摘要

In order to improve the light sensitivity of silicon-on-insulator metal-insulator-semiconductor (SOI-MOS) photodiode, differences caused by the adhesion materials for gold (Au) line-and-space (L/S) surface plasmon (SP) antenna are evaluated based on the electromagnetic simulation. Furthermore, the rejection ratio for polarized light with silicon nitride (Si_3N_4) adhesion layer is analyzed.
机译:为了提高绝缘体上硅金属 - 绝缘体 - 半导体(SOI-MOS)光电二极管的光敏性,由金(Au)线和空间(L / S)表面等离子体(SP的粘附材料引起的差异(SP )基于电磁模拟评估天线。此外,分析了具有氮化硅(Si_3N_4)粘附层的偏振光的抑制比率。

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