EUV lithography; Mask 3D effects; Mask 3D induced phase; Mask absorber optimization;
机译:掩模和地形引起的相位效应和光学和极紫外光刻中的波像差
机译:光刻成像中像差引起的交替相移掩模的强度不平衡
机译:使用Zernike相位掩模传感器校准系外行星直接成像仪器中的准静态像差
机译:通过降低D90Y照明下水平一维空间的掩模形貌诱导的相差来增强成像
机译:使用相移掩模在高数值孔径光刻中表征偏振照明。
机译:非对称掩模用于基于实验室的带有边缘照明的X射线相衬成像
机译:光刻成像中像差引起的交替相移掩模的强度不平衡