首页> 外文会议>応用物理学会春季学術講演会;応用物理学会 >AlN単結晶上にHVPE成長させたSi添加AlN基板の発光特性
【24h】

AlN単結晶上にHVPE成長させたSi添加AlN基板の発光特性

机译:HVPE在AlN单晶上生长的Si加入的Aln底物的发光特性

获取原文

摘要

(Al,Ga)N系深紫外LEDの内部量子効率向上には、禁制帯中央付近に準位を形成するすべての再結合中心(MGRC)の濃度低減が必須である。幸い、低転位密度(< 10~4 cm~(-2)) AlN基板が手に入るため、転位以外の点欠陥や不純物が発光特性に及ぼす影響の研究が行える。AlNの場合Al空孔(VAl)とN空孔(VN)の複合体だけでなくVAlと不純物の複合欠陥[もMGRCとなることが報告されており不純物と点欠陥双方の低減が必要である。本発表では、物理気相輸送(PVT)成長c面AlN上にHVPEで厚膜AlNを成長させPVT部を除去した、低転位密度と低炭素濃度を両立するAlNウエハの陰極線蛍光(CL)及び陽電子消滅測定結果を報告する。
机译:(Al,Ga)为了提高基于N基紫外线LED的内部量子效率,所有重组中心(MGRC)的浓度降低,在禁区中心的近方形成水平至关重要。 幸运的是,可以获得低位脱位密度(<10至4cm〜(-2))AlN衬底,因此可以进行关于在发光特性上的脱位和杂质以外的点缺陷和杂质的影响的研究。 在AlN的情况下,不仅Al孔(VAL)和N个空位(VN)的复合物,而且还具有val和杂质是复合缺陷[MGRC还报告,并且需要杂质和点缺陷。。 在该介绍中,具有低位脱位密度的ALN晶片的阴极射线荧光(Cl),具有厚膜Aln的低脱位密度和低碳浓度,并在物理气相输送(PVT)生长C平面Aln和A上除去PVT部分低位脱位密度和低碳浓度。报告正电子湮没测量结果。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号