飽和溶解圧力探索法による超臨界CO2に対する ルブレンの溶解度の測定と相関

摘要

近年,有機半導体薄膜を用いた軽量かつ柔軟な新規デ バイスが注目されている．我々は,CO2 を利用した超臨界 溶体急速膨張（RESS）法による製膜技術を提案し,有機薄 膜トランジスタが作製可能であることを示した1-3)．RESS 法 における薄膜設計の際,超臨界CO2 に対する有機半導体 材料の溶解度が必要不可欠となる．しかし,超臨界CO2 に 対する有機半導体材料の溶解度は非常に低いため,信頼 性の高い溶解度が少ない,または溶解度測定が行われて いない．一般的な流通法による溶解度測定は,飽和溶解 達成の問題のため信頼性の高い溶解度測定が困難である． そこで我々は,簡易（検量線不要）かつ高精度な溶解度測 定手法である飽和溶解圧力探索法を提案した4)．本手法に より,超臨界CO2に対する有機半導体材料であるアントラセ ン,テトラセン,TIPS ペンタセン及びPh-BTBT-10 の溶解度 を測定し,本手法の妥当性を示した．本研究では,テト ラセンにフェニル基が4 つ付いた構造をもつ,高性能有機 薄膜トランジスタ材料であるルブレンの溶解度測定を行っ た．測定した溶解度と既往の研究で測定されたテトラセン の溶解度4)を比較した．さらに,Chrastil 式8)による相関を試 み,その適用性を検討した．