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電気インピーダンスCTの反復解法とシミュレーションによる評価

机译:反复解决方案和仿真评估电阻抗CT

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摘要

現在,研究·開発されている電気インピーダンスCT (electrical impedance tomography,以下EITと略)の計測システムの多くは,計測対象の表面に多数の電極を接触させ,電極に電流を印可するとともに電位を測定するいう構成をとっている[1].l番目の電極に印可する電流をI_l,全ての電極の印可電流をまとめてベクトルT=(I_1,I_2…,I_L)~Tで表す.ここでLは電極数,上付きのTはベクトルの転置を表す.また,このとき電極で測定される電位をベクトルV=(V_1,V_2,…,V_L)~Tで表す.
机译:目前,通过待测表面上的大量电极接触研究和开发的许多电阻抗CT(电阻抗断层扫描和跟随EIT)的测量系统,并将电流施加到电极和测量潜力。配置要配置[1]。施加到第L电极的电流表示为向量的向量T =(I_1,I_2,I_L),以及施加所有电极。这里,L表示电极的数量,并且T是载体的转换。此时,由电极测量的电位由载体V =(V_1,V_2,...,V_L)表示为T.

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