机译:Cu / Al爆炸压力接合结过程和结界面的数值分析
机译:Cu / Al爆炸压力接合结过程和结界面的数值分析
机译:观察时效处理后的界面结构的变化,该时效处理是使用添加铜化合物的焊剂形成的Sn-3.5Ag /化学镀Au / Ni-P电极接头
机译:电磁键合Al / Cu键合材料的波状界面形成过程的数值分析及粘接界面的温度变化
机译:用电子光谱研究III-VI层半导体的化学键合和异质结中的界面形成
机译:Cu衬底/ NiP / Au镀层与Sn-Ag无铅焊料之间的界面反应及界面结构对接头强度的影响分析:俄歇电子能谱和透射电子显微镜