内部Mg拡散法によって作製されたMgB_2線材の局所臨界電流分布の評価と電子顕微鏡観察による特性制限因子の解明

摘要

内部Mg拡散法によって作製されたMgB_2線材に関しては，現状では局所I_c値にばらつきが有り，その局所I_c値の最小値によって試料全体のI_c値が制限されていることがわかった。そこで本研究では，本線材の局所特性低下部の要因を探るべく，磁気顕微法によって高精度に位置を特定した上で，該当部の電子顕微鏡観察を行った。