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【24h】

SiC-MOSFETとSi-IGBTを用いた単相PWMインバータの電磁鋼板における鉄損特性のまとめ

机译:使用SiC-MOSFET和Si-IGBT综述单相PWM逆变器电磁钢板中的铁损特性

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摘要

オン電圧は電力用半導体だけでなく,還流ダイオードも影響があると指摘されているため,SiC-MOSFETのモデルには,オン電圧の低いショットキーバリアダイオードを用い,Si-IGBTのモデルには,オン電圧が高いSi-diodeを用いた。そして,電力用半導体やダイオードといった各素子を実験条件に合わせてオン電圧を測定し,実測値を得た.その上で,リング試料による鉄損評価を行い,オン電圧が鉄損へ与える影響について調査したので報告する。
机译:电压不仅是半导体功率,因为​​它指出了续流二极管也受到了SiC-MOSFET的模型,使用肖特基势垒二极管,具有低导通电压的型号,Si-IGBT的模型,高Si-二极管电压。然后,测量电压以适合每个元件在实验条件下的功率半导体或二极管,以提供测量值。首先,它使环样品进行铁损评估,对报告进行导通电压进行调查,以影响铁损。

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