Charakterisierung eindimensionaler Nanostrukturen durch Verfahren der Bildverarbeitung

摘要

Ziel dieser Arbeit ist die Entwicklung einer Methode zur Abschatzung der OberflachenvergroBerung durch grossflachig aufgebrachte Nanodrahte anhand auswertbarer Bilddaten rasterelektronenmikroskopischer Aufnahmen. Untersucht werden dabei die Poren von sogenannten Templatfolien, welche zur galvanischen Erzeugung der Nanodrahte benotigt werden. Position und Verlauf der Poren auf der auflaminierten Folie konnen mittels Techniken der Bildverarbeitung erfasst und ein Ruckschluss auf die Mantelflache der anschliessend erzeugten Drahte gezogen werden.