Feature selection technique; Manufacturing process; Intelligent manufacturing; Sequence analysis; Data mining; Semiconductor; Wafer fabrication process; Performance prediction;
机译:结合特征选择,实例选择和集合分类技术,提高财务困境预测
机译:使用$ hbox {C} _ {4} hbox {F} _ {8} $等离子聚合物在双面晶圆加工过程中进行精确的面到本体特征对准和特征尺寸保留,以制造静电致动悬臂装置
机译:基于GA和PSO的特征选择技术提高遥感影像分类精度的性能分析。
机译:特征选择技术,提高晶圆制造过程中性能预测
机译:使用先进的信号处理技术进行雷达特征预测和特征提取。
机译:通过使用新颖的集成特征选择方法补偿特征选择偏差并改善二进制分类的预测性能
机译:测量和模拟硅晶片质量特性的鲁棒技术,使MEMC硅晶片的太阳能电池电气性能预测。合作研发最终报告,CRADA号码CRD-11-438
机译:改进的特征提取,特征选择和识别技术,创建快速无监督的高光谱目标检测算法