DNL-Verfahren zur Reduktion der ADC-Testzeit und dessen Sicherheitsrisiko

摘要

Testzeit ist sehr teuer, aber in den meisten Fallen notwendig. Die meiste Zeit wird beim ADC-Test mit dem DNLTestverfahren verbraucht. Es gibt verschiedene Verfahren, die man beim DNL-Test anwenden kann. Das schnellste und effizienteste Verfahren ist das Histogrammverfahren. Je grosser die ADC Auflosung ist, desto mehr Testzeit wird benotigt, unabhangig von dem verwendeten Verfahren. Bei einem 16-Bit ADC mit 1 MSPS und einem DNLHistogrammtest von 80 Hits pro Code, betragt die Testzeit ungefahr 5 Sekunden. Im neu darzustellenden Verfahren wird die Testzeit auf nur noch 77 ms drastisch reduziert. Dies entspricht einem Faktor von 99,9%. Die Qualitat soll dadurch aber nicht beeinflusst werden.