angle resolved scattering; atomic force microscopy; roughness spectrum; multiscale analysis;
机译:使用二次谐波和和频产生的微电子结构的近场和近场光学显微镜
机译:扫描光学腔,用于测量嵌入式微结构的内部粗糙度
机译:超快扫描电子显微镜用于研究自由电子与周期性纳米结构的光学近场之间的相互作用
机译:光学远场测量的微粗糙度测定周期性微电子结构
机译:边缘粗糙度对周期性微结构光散射的影响。
机译:通过氧析出测量原子力显微镜和扫描近场光学显微镜设计功能化脂质并证明其与光系统II核心复合物的结合。
机译:在近场光学扫描显微镜中通过光谱干涉测量确定波导组速度
机译:多层半导体结构中界面粗糙度的光学测定