机译:暂时锁定微结构和/或粗糙度测量设备的方法,实施该方法的微结构和/或粗糙度测量设备,以及微结构和/或粗糙度测量设备和测量的组装
公开/公告号EP3108204A1
专利类型
公开/公告日2016-12-28
原文格式PDF
申请/专利权人 BREITMEIER MESSTECHNIK GMBH;
申请/专利号EP20160717541
发明设计人 BREITMEIER ULRICH;
申请日2016-03-10
分类号G01B11/30;G01B21/30;G01B5/28;
国家 EP
入库时间 2022-08-21 14:02:24