首页> 外文会议>International Conference on Chemical Engineering and Advanced Materials >Initial Surface Reactions Mechanisms of Atomic Layer Deposition TiO_2 Using Ti(OCH_3)_4 and H_2O as Precursors
【24h】

Initial Surface Reactions Mechanisms of Atomic Layer Deposition TiO_2 Using Ti(OCH_3)_4 and H_2O as Precursors

机译:原子层沉积TiO_2使用Ti(Och_3)_4和H_2O作为前体的初始表面反应机制

获取原文

摘要

The initial surface reaction mechanisms of atomic layer deposition TiO_2 using Ti(OCH_3)_4 and H_2O as the precursors are investigated by density functional theory. The ALD process is divided into two half-reactions, i.e., Ti(OCH_3)_4 and H_2O half-reactions. The adsorption of Ti(OCH_3)_4 on OH/Si(100)-2×1 surface is exothermic. However, the overall reaction of Ti(OCH_3)_4 is endothermic. In addition, H_2O half-reactions are endothermic and thermodynamically unfavorable.
机译:用密度函数理论研究了使用Ti(OCH_3)_4和H_2O作为前体的原子层沉积TiO_2的初始表面反应机制。 ALD方法分为两个半反应,即Ti(OCH_3)_4和H_2O半反应。 OH / Si(100)-2×1表面上的Ti(OCH_3)_4的吸附是放热的。然而,Ti(OCH_3)_4的总反应是吸热的。此外,H_2O半反应是吸热和热力学上不利的。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号